IC封装高压加速老化试验箱HAST 非饱和型

IC封装高压加速老化试验箱HAST 非饱和型

技术优势‌

‌精准环境模拟‌

采用‌非饱和蒸汽加湿技术‌，避免样品表面凝露干扰测试结果‌

配备‌干湿球双传感器‌与PID智能算法，实现温湿度精准调控‌。

‌高强度结构设计‌

‌内胆材质‌：SUS316不锈钢圆弧内胆，防结露设计，耐受长期高压蒸汽腐蚀‌。

‌隔热系统‌：陶瓷纤维隔热层+冷轧钢板外壳，能耗降低30%‌。

IC封装高压加速老化试验箱HAST 非饱和型

‌安全防护系统‌

‌双重泄压保护‌：机械安全阀+电子超压报警，压力超限自动切断电源‌。

‌多重故障防护‌：断水保护、空焚保护、漏电保护，符合国家安全容器标准‌。

‌三、应用场景‌

‌IC封装测试‌：快速暴露芯片分层、焊点腐蚀、金属引线失效等问题（测试周期缩短至48小时）‌。

‌半导体器件可靠性验证‌：评估BGA封装、磁性材料在湿热高压下的寿命衰减特性‌。

‌军工与汽车电子‌：ECU控制器、传感器密封性及耐候性测试‌。

‌四、增值服务‌

‌定制化方案‌：支持样品架尺寸、信号施加端子数量定制（标准配置8条端子）‌。

‌快速交付‌：15天交付周期（含安装调试与技术培训）‌。

‌售后服务‌：整机质保3年，核心部件（传感器、压缩机）终身维护‌。

‌五、测试效果与价值‌

‌加速老化效率‌：模拟10年自然老化效果仅需240小时，降低研发周期与成本‌。

‌数据可靠性‌：支持USB导出温湿度曲线数据，兼容RS-485通讯接口‌。

皓天HT-HAS-150以非饱和高压环境为核心，满足IC封装等高精度测试需求，结合军工级安全设计，为电子行业提供高效可靠的老化验证方案‌。