HAST高压加速老化试验机检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。采用加速老化的寿命试验,从耐缩短试验证时间,提高验证的效率,降低验证成本,为研究提高产品的可靠性提供充分的依据。本设备广泛应用工IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、FVA、光伏组件等行业之相关产品加速老化寿命试验。
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品牌 | 广皓天 |
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HAST高压加速老化试验机
HAST高压加速老化试验机
特点配置介绍:
A、箱体结构:外箱采用A3板喷塑处理;内箱采用Sus316不锈钢制成。
B、高精度测试系统:可靠温度测试模块+三菱PLC组成,高精度的整体控制系统。
C、本产品采用双箱体测试结构:测试箱体和蒸汽发生器相互合作,独立动作,与单箱体系统蒸汽在测试箱体生成不同,测试箱体(干)与蒸汽发生器(湿)间的相互干扰降到了低,此外,设置在测试箱体内温度控制器的精度,则由内部加热系统很好的保证着。因此,双箱体可与单箱体媲美大跨度的湿度调节范围,能为测试提供一个适当和稳定的环境。而且偏压测试可实施,高效可靠的测试非常重要,因为它能保证和传统THB测试的紧密联系和互动!
D、一键式电子门锁(按钮)和滑动托盘:使用电子门锁只需按动按钮,门就可以实现打开或关闭;滑动托盘可让托盘与同同时打开,这样使用者就无须在测试结束温度高的时候将手伸入箱内取放样品。
E、偏压测试接头:偏压测试接线柱位于门上,方便接线,端子数量/电流可定制。
F、降压方式:根据测试的目的不同,可选不同的降压方式(三种模式可选)。
G、满足多种测试方法:HAST非饱和蒸汽测试方法、PCT饱和蒸汽测试方法均可满足!
H、安全排水:测试完成后的高温水,经冷却之后再排出!
HAST高压加速老化试验箱是在非饱和湿度(65%~100%RH可调)、温
度、压力等条件下,检测产品或材料可靠性耐高温高湿能力的仪器设备。
一般用来进行材料吸湿率试验、高压蒸煮试验等,若待测品是半导体,则用
来测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境
下测试,如果半导体封装的不好,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗
入封装体之中,常见的故装原因:爆米花效应、动金属化区域腐蚀造成之断
路、封装体引脚间因污染造成之短路等相关问题。