Related articles
高压加速寿命试验箱:多应力环境模拟下的产品缺陷快速暴露与可靠性评估
高压加速寿命试验箱类型解析:PCT与HAST的核心区别与应用指南
非饱和高压加速老化试验箱HAST检查芯片及其他材料长期贮存条件下,高温和时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求,仅针对非密封封装塑料封装),带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。
联系电话:0769-81085066
品牌 | 广皓天 | 高温 | 105℃~162.5℃ |
---|---|---|---|
高压 | 0.019~0.393 MPa | 温度均匀性 | ¢400 mm × D550 mm |
分辨率 | 0.1℃ | 湿度范围 | 65% ~ 100% RH |
饱和型 | 100% RH(固定湿度) | 温度均匀度 | ±0.5℃ ~ ±2℃(视控制模式) |
湿度均匀度 | 非饱和模式:±2.5% RH ~ ±5% RH | 加压时间 | 约45分钟升至目标压力(如0→2.0 kg/cm2) |
非饱和高压加速老化试验箱HAST的生产厂家,广东皓天检测仪器有限公司拥有专业的生产研发技术,一站式周到服务。作为一家专注于试验设备产品的大型仪器制造商,皓天设备致力于为消费者提供技术、品质的优秀产品。
HAST试验箱是利用高温(通常为130°C)、高相对湿度(约85%)、高大气压力的条件(达3 atm)来加速潮气通过外部保护材料或芯片引线周围的密封封装的试验设备,用于评估产品及材料在高温,高湿,高气压条件下对湿度的抵抗能力,加速其失效过程。
内箱尺寸 φ475×D450mm
外箱尺寸 800×1200×940mm 以实际为准
温度范围 85℃~130℃
湿度范围 65%~100%RH
温湿度偏差 温度:±2.0℃ 湿度: ±3% RH
温度波动度 ≤0.5℃
温度偏差 ≤±2.0℃
温度均匀度 ≤2.0℃
压力范围 0.2~2.87bar箱内相对压力(绝对压力加 1 个大气压压力)
偏压端子 0~48 个可选
升温时间 常温 → +130℃ 约 55 min
升压时间 常压 → 2.87bar 约 80 min.
广皓天HAST试验箱具备以下特点:
稳定性更高
压力值采实际感应侦测确保温度、湿度及压力值
准确度;
多重保护功能
三道高温保护装置、湿度用水断水保护与电热断水空焚保护、机台停机时自动排除饱和蒸气压力、气动机构压力保护等
智能化高
支持电脑连接,利用USB数据.
曲线导出保存
非饱和高压加速老化试验箱HAST
满足测试标准
GB-T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热IEC 60068-2-66-1994 环境试验 第2-66部分:试验方法 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命
JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试
JESD22-A102 加速水汽抵抗性-无偏置高压蒸煮
JESD22-A108 温度,偏置电压,以及工作寿命(IC寿命试验)
JESD22-A110 高加速温湿度应力试验(HAST)
JESD22-A118 加速水汽抵抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)