高低温试验箱能够长时间稳定运行

更新时间：2025-11-25

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　　高低温试验箱可以自动记录测试数据，方便用户进行分析和评估，有助于更好地了解产品在不同温度条件下的性能表现。温度控制精度高，误差极小，能够在设定的温度范围内准确地维持稳定的温度环境。这对于需要进行高精度温度测试的产品和实验来说至关重要，例如对温度极其敏感的电子元器件和精密仪器的测试。

　　箱内各个角落的温度差异较小，即温度分布均匀性良好，能使试验样品在相同的温度环境下进行测试，提高了试验结果的准确性和可靠性。采用高质量的材料和先进的制造工艺，具有良好的稳定性和耐用性，能够长时间稳定运行，减少了设备故障和维修的频率。

　　配备直观的操作界面、PLC控制系统、触摸屏以及远程监控功能等，用户可以轻松设置试验参数，实时监控试验过程中的温度变化，部分设备还具备自动诊断和报警功能，操作便捷且安全性高。

　　高低温试验箱的测定步骤：

　　1.预处理：将被测样品放置在正常的试验大气条件下，直至达到温度稳定。

　　2.初步检测：将测试样品与标准要求进行比较，满足要求后直接放入高低温试验箱。

　　3.低温测试：样品断电时，按标准要求放置在试验箱内，使箱内温度降至-50℃，保持4小时。注意不要在样品通电状态下进行低温测试，因为芯片本身在通电状态下会产生热量，影响测试结果的准确性，必须先冻透，再通电试验。

　　4.高温测试转换：在低温阶段结束后5min内，将试验样品转换为已调整的状态，放入设定为90℃的高温试验箱(室)内，保持4h或者直到测试样品达到温度稳定。与低温测试相反，加热过程不断电，让芯片内部温度保持高温，4小时后执行相关测试步骤。

　　5.老化测试：进行老化测试，观察是否存在数据对比错误等情况，以进一步检验样品的性能和可靠性。

　　6.循环重复：高温和低温试验分别重复10次，然后重复上述整个实验方法，完成三个循环。不过根据样品的大小和空间的大小，时间可能略有误差。

　　7.恢复：试验样品从试验箱中取出后，应在正常试验大气条件下恢复，直至试验样品达到温度稳定。

　　8.检测：根据标准中的损伤程度等方法评估检测结果。如果测试过程中没有正常工作，则视为测试失败。

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